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                                                                                    湖北襄陽(yáng)忠東機電設備有限公司

                                                                                    24小時(shí)銷(xiāo)售熱線(xiàn)：

                                                                                    手機：15871070288 彭經(jīng)理

                                                                                    Q Q：61102568

                                                                                    手機：13597504406 秦經(jīng)理

                                                                                    Q Q： 2448782675

                                                                                    辦公室熱線(xiàn):

                                                                                    電話(huà)：0710-2350995

                                                                                    傳真：0710-3816559

                                                                                    郵箱：xyzdjd@126.com 或 hbzdjd@126.com

                                                                                    網(wǎng)址：www.wzhnt.com

                                                                                    地址：中國湖北襄陽(yáng)市樊城區柿鋪正英工業(yè)園

                                                                                    進(jìn)相器用晶閘管損壞原因常見(jiàn)現象分析

                                                                                     當晶閘管損壞后需要檢查分析其原因時(shí)，可把管芯從冷卻套中取出，打開(kāi)芯盒再取出芯片，觀(guān)察其損壞后的痕跡，以判斷是何原因。下面介紹幾種常見(jiàn)現象分析。

                                                                                    1、電壓擊穿。晶閘管因不能承受電壓而損壞，其芯片中有一個(gè)光潔的小孔，有時(shí)需用擴大鏡才能看見(jiàn)。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開(kāi)時(shí)產(chǎn)生的高電壓擊穿。
                                                                                     
                                                                                    2、電流損壞。電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個(gè)凹坑，且粗糙，其位置在遠離控制極上。
                                                                                     
                                                                                    3電流上升率損壞。其痕跡與電流損壞相同，而其位置在控制極附近或就在控制極上。 
                                                                                     
                                                                                    4、 邊緣損壞。他發(fā)生在芯片外圓倒角處，有細小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有細細金屬物劃痕。這是制造廠(chǎng)家安裝不慎所造成的。它導致電壓擊穿。 
                                                                                    分享到：

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