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                                                                                    24小時銷售熱線：

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                                                                                    手機：13597504406 秦經理

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                                                                                    地址：中國湖北襄陽市樊城區柿鋪正英工業園

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                                                                                    進相器用晶閘管損壞原因常見現象分析

                                                                                     當晶閘管損壞后需要檢查分析其原因時，可把管芯從冷卻套中取出，打開芯盒再取出芯片，觀察其損壞后的痕跡，以判斷是何原因。下面介紹幾種常見現象分析。

                                                                                    1、電壓擊穿。晶閘管因不能承受電壓而損壞，其芯片中有一個光潔的小孔，有時需用擴大鏡才能看見。其原因可能是管子本身耐壓下降或被電路斷開時產生的高電壓擊穿。
                                                                                     
                                                                                    2、電流損壞。電流損壞的痕跡特征是芯片被燒成一個凹坑，且粗糙，其位置在遠離控制極上。
                                                                                     
                                                                                    3電流上升率損壞。其痕跡與電流損壞相同，而其位置在控制極附近或就在控制極上。 
                                                                                     
                                                                                    4、 邊緣損壞。他發生在芯片外圓倒角處，有細小光潔小孔。用放大鏡可看到倒角面上有細細金屬物劃痕。這是制造廠家安裝不慎所造成的。它導致電壓擊穿。 
                                                                                    分享到：

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